台濠(万濠)科技股份有限公司為國內專業三次元, 影像量測儀, 光學投影機, 光學尺, 數顯箱製造商,所生產的光學尺被客戶廣泛應用在產業機械與精密檢測設備上,本公司致力提供完整的微奈米檢測儀器之產品線,從建立自有技術之研發生產,到擁有自有品牌之銷售服務,提供上中下游完整的產品供應及售後服務,未來將持續朝更高速、高精度之新產品發展,目前已在台灣、中國大陸及亞洲地區等大中國地區佔有廣大的市場及響亮的品牌知名度。
目前在光學尺以及精密量測儀器主力產品有大範圍測量之CNC影像測量儀及奈米深度3D形狀顯微檢測儀應用於半導體,光學資料儲存的表面粗度測量、三次元座標測量機、二次元非接觸影像測量儀、正向立式與臥式光學投影機、工具顯微鏡、刀具預調儀、開放式光學尺&顯示器、雷射干涉儀(Fizeau Interferometer),未來將持續新產品研發,將陸續推出原子力掃瞄顯微儀(AFM)等奈米尺度高階儀器,並為客戶提供完整的微奈米檢測方案及完善的售後服務。
創立於:
1987年 成立台濠貿易有限公司,代理Mitutoyo光學尺
1993年 研發顯示器成功並投入光學尺研發生產
1997年 通過DNN、ENC測試正式取得CE認證
1999年 參與工研院量測中心SPM(掃瞄探針顯微鏡)研發計畫,並取得ISO9002認證
2000年 與工研院技術合作研發高精度投影機及影像量測儀
2001年 與量測中心技術合作研發反射式光學尺
2002年 反射式光學尺技術轉移
2003年 參與量測中心SPM計劃生產AFM(原子力顯微鏡)原型機,導入申請CNLA度量校正實驗室認證
2004 成功開發CNC影像測量儀
2005 年 完成了具有世界先進水平的具有相位補償功能的光柵/磁柵電子細分專用集成塊;同年研製生產了三次元座標測量機,這是一種集精密機械、氣浮、數位化、光電、視頻、自動控制及軟體多種技術於一體的產品
2006 年 與工研院技術合作研發高精度白光顯微干涉儀
2007 年 主要產品通過歐盟安規CE
2008 年 成功研發自動對焦系統,應用在CNC影像測量儀及CNC白光干涉儀
2008 年 成功開發高精度白光顯微干涉儀與CNC影像測量儀的自動對焦系統,並生產超大行程影像測量儀,量測範圍可達3000x 2000x 200mm。
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